电子元件测试用的自锁装置以及测试设备

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专利状态

电子元件测试用的自锁装置以及测试设备

有效

专利申请进度

申请

2023-05-04

授权

2023-10-17

预估到期

2033-05-04

专利基础信息

申请号	CN202321074011.5	申请日	2023-05-04
授权公布号	CN219842467U	授权公告日	2023-10-17
分类号	G01R1/04;G01R31/00
分类	测量；测试;
申请人名称	浙江大立科技股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路639号

专利法律状态

2023-10-17

授权

状态信息

授权

摘要

本申请提供了一种电子元件测试用的自锁装置和测试设备，所述电子元件测试用的自锁装置和测试设备包括：测试座，所述测试座用于安装待测电子元件；测试座上盖，所述测试座上盖用于压紧待测电子元件实现电接触，其一端通过第一转动件与所述测试座转动连接；动力部，所述动力部通过第二转动件与所述测试座上盖另一端转动连接，所述动力部产生动力带动第二转动件转动从而牵引所述测试座上盖关闭完成自锁，以及打开完成解锁。上述电子元件测试用的自锁装置和测试设备可实现全自动地锁紧和解锁测试座，代替了人工操作，应用于自动化测试设备，提高了测试效率。

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